無(wú)損檢測(cè)行業(yè)在我國(guó)已有幾十年的歷史，隨著社會(huì)經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，無(wú)損檢測(cè)行業(yè)已經(jīng)涉及到了人們生活當(dāng)中的各個(gè)方面。作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的X射線檢測(cè)（Radiology），在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。

X射線無(wú)損檢測(cè)技術(shù)正廣泛地應(yīng)用于汽車、科學(xué)研究、增材制造、智能手機(jī)等工業(yè)領(lǐng)域，可應(yīng)用于檢測(cè)鋰電池SMT焊接、 IC封裝、 IGBT半導(dǎo)體、 LED燈條背光源氣泡占空比，檢測(cè)BGA芯片檢測(cè) 、壓鑄件疏松焊接不良檢測(cè)、 電子工業(yè)產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)無(wú)損缺陷檢測(cè)等等。

近年來(lái)，X射線無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用領(lǐng)域更進(jìn)一步拓展，在材料測(cè)試、食品檢測(cè)、制造業(yè)、電器、儀器儀表、電子、汽車零部件、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)、考古、地質(zhì)等領(lǐng)域都有不俗的表現(xiàn)。

鋁鑄件：在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域（NDT），鑄件檢測(cè)是一個(gè)最典型的應(yīng)用。鋁鑄件的市場(chǎng)在穩(wěn)步增長(zhǎng)，特別是一些關(guān)鍵的安全部件（例如汽車制造業(yè)中的一些鑄件）生產(chǎn)廠商必須對(duì)他的客戶保證其產(chǎn)品的質(zhì)量是信得過(guò)的，而鋁鑄件的砂眼或其他內(nèi)部隱蔽缺陷可能會(huì)對(duì)其最終用戶造成劇烈的傷害。一張簡(jiǎn)單的X射線圖像，使得許多造成次品的原因一目了然。使用自動(dòng)化數(shù)字X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)在線100%的檢查，從而實(shí)現(xiàn)0故障率。

可塑型材：型材上的通氣孔是不受歡迎的，因?yàn)檫@些通氣孔可能會(huì)造成交接部分的脆弱或者降低型材的堅(jiān)固性。X射線檢測(cè)以其高效的無(wú)損探傷能力使得保證其質(zhì)量成為可能。

渦輪葉片：渦輪葉片通常都安裝在一些通道（系統(tǒng)）內(nèi)，在工作時(shí)，冷空氣從它們中間流過(guò)。因?yàn)槠鋸澢膸缀谓Y(jié)構(gòu)，采用超聲波等其他無(wú)損探傷技術(shù)變得非常困難。而X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)就可以檢測(cè)制冷系統(tǒng)中的渦輪葉片的破損或故障。

電容器：電容器是一種能夠儲(chǔ)藏電荷的元件，也是最常用的電子元件之一。在進(jìn)行破壞性分析之前，有必要在損壞電容器的條件下盡可能多的獲取有關(guān)電容器的物理和電性能的數(shù)據(jù)。無(wú)損檢驗(yàn)技術(shù)的結(jié)果將有助于確定一條能查明導(dǎo)致電容器失效根本原因的途徑。X光作為一種經(jīng)常使用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以檢查電容器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及其任何異常狀態(tài)(陽(yáng)極未對(duì)準(zhǔn)，弱正極或是負(fù)極接觸等)。隨著X光分辨率的改善和計(jì)算機(jī)運(yùn)行速度加快，X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備成為了分析電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一種有益的工具。

X射線與自然光并沒(méi)有本質(zhì)的區(qū)別，都是電磁波，只是X射線的光量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光。它能夠穿透可見(jiàn)光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時(shí)將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，可以使原子發(fā)生電離，使某些物質(zhì)發(fā)出熒光，還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部區(qū)域存在缺陷，它將改變物體對(duì)射線的衰減，引起透射射線強(qiáng)度的變化，這樣，采用一定的檢測(cè)方法，比如利用膠片感光，來(lái)檢測(cè)透射線強(qiáng)度，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小。

X射線探傷輻射范圍，一般是是90mm——600mm。

X 射線是在高真空狀態(tài)下用高速電子沖擊陽(yáng)極靶而產(chǎn)生的。X射線管發(fā)出的X射線能穿透的最大鋼材厚度分別約為90毫米、230毫米和600毫米。

X射線能夠精準(zhǔn)的探查到產(chǎn)品內(nèi)部的缺陷，找到出現(xiàn)缺陷的根本原因所在。而被穿透的產(chǎn)品結(jié)構(gòu)，經(jīng)過(guò)顯像過(guò)程，熒屏或電視屏顯示，就能獲得具有黑白對(duì)比、層次差異的X線圖像。