DAGE XD7500VR JADE PLUS X射線檢測(cè)設(shè)備
檢驗(yàn)產(chǎn)品品質(zhì)
測(cè)量
Jade Plus可以獨(dú)特地檢測(cè)您的產(chǎn)品品質(zhì)。作為標(biāo)準(zhǔn)配置的先進(jìn)測(cè)量功能可將X射線圖像轉(zhuǎn)換為定量數(shù)據(jù),利用這些數(shù)據(jù),您可以盡早發(fā)現(xiàn)新出現(xiàn)的品質(zhì)趨勢(shì),以免為時(shí)已晚。
合規(guī)性
內(nèi)置尺寸測(cè)量工具、BGA空洞分析、凸點(diǎn)直徑和圓度以及通孔填充,可快速查找并表征缺陷,幫助您達(dá)到IPC-A-610和IPC-7095合規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。
0.95 μm解析度
0.95μm解析度決定了是否能在無(wú)源元件中發(fā)現(xiàn)微裂紋。Jade Plus的解析度足以在微型BGA球內(nèi)進(jìn)行精確的空洞分析。
完整證明
三維可視化可清晰地證明產(chǎn)品質(zhì)量。選配的μCT組件可將元器件的二維X射線圖像轉(zhuǎn)換為完整的三維模型。
快速檢測(cè)速度
自動(dòng)檢測(cè)程序
通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)程序節(jié)省批量電路板的檢測(cè)時(shí)間。程序僅需一次編程,然后放置電路板并單擊運(yùn)行即可。幾秒鐘內(nèi)生成報(bào)告,報(bào)告可以保存在本地或中央數(shù)據(jù)庫(kù)中。
2個(gè)傾斜角
借助獨(dú)特的雙斜軸幾何結(jié)構(gòu),可以快捷方便地找到質(zhì)量缺陷??稍诟叻糯蟊堵氏氯娴夭榭疵總€(gè)細(xì)節(jié),而無(wú)需旋轉(zhuǎn)樣品。您永遠(yuǎn)不會(huì)錯(cuò)過(guò)樣品的測(cè)試角度。
輕松導(dǎo)航
借助組件導(dǎo)航圖可輕松到達(dá)想要的位置。只需單擊一下,即可直接移動(dòng)到電路板上的任何位置。使用實(shí)時(shí)部件ID查看器覆蓋進(jìn)行移動(dòng)時(shí),了解您正在查看的內(nèi)容。